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キーサイト・テクノロジー株式会社

製品資料

キーサイト・テクノロジー株式会社

異常発見の手ががりは熱分布から

近年様々な場面で熱に対する注目度があがり、サーモグラフィの活躍の場面も増えてきている。回路基板、パワーデバイスのホットスポット解析、またソーラーパネルやプラント設備のメンテナンス事例や、高解像度モード、放射率についての技術解説を紹介する。

コンテンツ情報
公開日 2015/10/07 フォーマット PDF 種類

製品資料

ページ数・視聴時間 49ページ ファイルサイズ 4.07MB
要約
異常発見の手ががりは熱分布から
 異常と発熱は密接な関係にある。回路基板の密集化が進み個々の熱による影響はより大きくなっている。実装後の基板の温度分布から、熱源を見つけ出す、また温度変化をモニタしていくことで、問題の原因箇所を迅速に特定することができる。この温度分布評価にサーモグラフィの利用が増えているが、その利用に知っておきたい対象物と放射の関係を解説している。サーモグラフィは自動車関連、成形加工、プラントや電気設備メンテナンス等にも幅広く利用されており、一部事例も紹介する。

ハイライト
・放射率と温度測定
・データロガーとサーモグラフィ
・パワーデバイスの温度特性評価
・バッテリー充電時の温度評価
・ソーラーパネル点検